Print syllabusIntellectual Property Law
General data
| Course ID: | WMCM-LE-OWI |
| Erasmus code / ISCED: | (unknown) / (unknown) |
| Course title: | Intellectual Property Law |
| Name in Polish: | Ochrona własności intelektualnej |
| Organizational unit: | Faculty of Medicine. Collegium Medicum |
| Course groups: | |
| ECTS credit allocation (and other scores): |
(not available)
|
| Language: | Polish |
| Subject level: | elementary |
| Learning outcome code/codes: | PR_W02, PR_W03, PR_W04, PR_W06, PR_W07, PR_U01, PR_U02, PR_U07 PR_U09 |
| Short description: |
The aim of the course is to acquire systematic knowledge in the field of intellectual property law. |
| Full description: |
The thematic scope includes: 1. The concept of intellectual property 2. Sources of intellectual property rights 3. International agreements in the field of intellectual property 4. Division into copyright law and related rights, industrial property law, in relation to competition law 5. Scope of copyright law 6. Exploitation rights and personal rights 7. Basic information about copyright contracts 8. Basic information on related rights 9. Database protection 10. Unfair competition and competition laws 11. Trademarks, subject of protection and entities authorized to reporting 12. The concept of an invention and a patent, entities entitled to apply invention for protection; European patent 13. Basic information on registration and protection of inventions 14. Exam. |
| Bibliography: |
1. Basic literature: J. Barta, R. Markiewicz „Prawo autorskie” Oficyna Wolters Kluwer, Warszawa, aktualne wydanie M. Poźniak-Niedzielska, J. Szczotka, M. Mozgawa „Prawo autorskie i prawa pokrewne zarys wykładu”, Oficyna Wydawnicza Branta, Bydgoszcz, Warszawa, Lublin 2007 J.Banasiuk, J.Sieńczyło-Chlabicz, Z.Zawadzka „Prawo własności intelektualnej”, Wolter Kluwer, Warszawa 2018 E.Nowińska, U.Promińska, K.Szczepanowska- Kozłowska, „Prawo własności przemysłowej”, LexisNexis, Warszawa 2014 2. Supplementary literature: System prawa prywatnego t. XIII prawo autorskie (J. Barta red.) Warszawa 2017 M. du Vall "Prawo patentowe", Oficyna Wolters Kluwer, Warszawa, aktualne wydanie |
| Efekty kształcenia i opis ECTS: |
EK1 student lists and describes concepts in the field of intellectual property law EK2 student distinguishes and explains the sources of intellectual property and industrial property rights EK3 student defines and presents the characteristics of the institution of intellectual property law EK4 student describes instruments for the protection of intellectual property and industrial property EK5 student explains the institutions and protection of industrial property |
| Assessment methods and assessment criteria: |
(in Polish) Metodami weryfikacji efektów kształcenia EK1-EK5 są aktywność na zajęciach, obserwacja zachowań, ocenianie ciągłe, praca pisemna, sprawdziany pisemne, odpowiedź ustna na zakończenie. kryteria oceniania: na ocenę 2: EK1 student nie zna pojęć z zakresu prawa własności intelektualnej EK2 student nie rozróżnia i nie potrafi objaśnić źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej EK3 student nie zna definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej EK4 student nie zna instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej EK5 student nie potrafi scharakteryzować na czym polega instytucja i ochrona własności przemysłowej na ocenę 3: EK1 student posiada zadowalającą wiedzę na temat pojęć z zakresu prawa własności intelektualnej EK2 student ma zadowalającą wiedzę na temat źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej EK3 student ma zadowalającą wiedzę na temat definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej EK4 student ma zadowalającą wiedzę na temat instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej EK5 student ma zadowalającą wiedzę na temat instytucji i ochrony własności przemysłowej na ocenę 4: EK1 student posiada dobrą wiedzę na temat definiowania pojęć z zakresu prawa własności intelektualnej EK2 student posiada dobrą wiedzę na temat źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej EK3 student posiada dobrą wiedzę na temat definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej EK4 student posiada dobrą wiedzę na temat instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej EK5 student posiada dobrą wiedzę na temat instytucji i ochrony własności przemysłowej na ocenę 5: EK1 student potrafi bardzo dobrze definiować pojęcia z zakresu prawa własności intelektualnej EK2 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej EK3 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej EK4 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej EK5 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat instytucji i ochrony własności przemysłowej |
Copyright by Cardinal Stefan Wyszynski University in Warsaw.
