Protection of intellectual property
General data
Course ID: | WS-EK-OWI |
Erasmus code / ISCED: | (unknown) / (unknown) |
Course title: | Protection of intellectual property |
Name in Polish: | Ochrona własności intelektualnej |
Organizational unit: | Institute Sociology |
Course groups: | |
ECTS credit allocation (and other scores): |
(not available)
|
Language: | Polish |
Subject level: | elementary |
Learning outcome code/codes: | (in Polish) EK1_W12, EK1_K03, EK1_K04, EK1_K05, |
Short description: |
(in Polish) Studenci powinni nabyć podstawową wiedzę z zakresu ochrony własności intelektualnej (OWI), w tym przemysłowej i prawa autorskiego (rozumieć podstawowe pojęcia i zasady) oraz potrafić ją wykorzystać, znać metody i narzędzia pozyskiwania danych, mieć wiedzę o strukturze, historycznej ewolucji, normach i regułach działania instytucji zajmujących się OWI, potrafić prawidłowo interpretować zjawiska dotyczące OWI, prawidłowo posługiwać się wybranymi normami i regułami z zakresu OWI, posiąść umiejętność przygotowania wystąpień ustnych i pisemnych oraz uzupełniać i doskonalić nabytą wiedzę i umiejętności |
Full description: |
(in Polish) Zakres tematyczny - Prawo autorskie i prawa pokrewne Przedmiot i podmiot oraz treść prawa autorskiego Czas trwania i przejście autorskich praw majątkowych Ochrona utworów audiowizualnych i programów komputerowych Ochrona autorskich praw osobistych i praw majątkowych oraz wizerunku, adresata korespondencji i tajemnicy źródeł informacji Prawa pokrewne Organizacje zbiorowego zarządzania, Komisja Prawa Autorskiego Prawo własności przemysłowej Wynalazki, wzory użytkowe i wzory przemysłowe Wzory użytkowe i prawa ochronne na wzory użytkowe Wzory przemysłowe i prawa z rejestracji wzorów przemysłowych Znaki towarowe i oznaczenia geograficzne Topografie układów scalonych Opłaty, rejestry, dokumenty i ogłoszenia urzędowe Urząd Patentowy Dochodzenie roszczeń Sankcje karne |
Bibliography: |
(in Polish) 1) G. Michniewicz, Ochrona własności intelektualnej, C.H.Beck, Warszawa 2016 2) A. Domańska -Baer, A. Suchoń (red), Ochrona własności intelektualnej 3) USTAWA z dnia 4 lutego 1994 r. o prawie autorskim i prawach pokrewnych 4) USTAWA z dnia 30 czerwca 2000 r. Prawo własności przemysłowej |
Efekty kształcenia i opis ECTS: |
(in Polish) EK1_W12, EK1_K03, EK1_K04, EK1_K05, 3 pkt ECTS 0,5 pkt ECTS obecność na zajęciach 15 h 1,0 pkt ECTS przygotowanie prezentacji i jej wygłoszenie 15h 1,5 pkt ECTS przygotowanie się do zaliczenia 30h |
Assessment methods and assessment criteria: |
(in Polish) warunki zaliczenia przedmiotu 1) obecność na zajęciach 15 pkt 2) przygotowanie referatu i jego wygłoszenie od 0 pkt do 15 pkt 3) praca pisemna -testy jednokrotnego wyboru 20 pkt oceny: 25 -0 pkt 2,0 26-30 pkt 3,0 31- 35 pkt 3,5 36- 40 pkt 4,0 41-45 pkt 4,5 46- 50 pkt 5,0 |
Copyright by Cardinal Stefan Wyszynski University in Warsaw.