Uniwersytet Kardynała Stefana Wyszyńskiego w Warszawie - Centralny System Uwierzytelniania
Strona główna

Ochrona własności intelektualnej

Informacje ogólne

Kod przedmiotu: WMCM-LE-OWI
Kod Erasmus / ISCED: (brak danych) / (brak danych)
Nazwa przedmiotu: Ochrona własności intelektualnej
Jednostka: Wydział Medyczny. Collegium Medicum
Grupy:
Punkty ECTS i inne: (brak) Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS:
  • roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
  • tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
  • 1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
  • tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
  • nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.

zobacz reguły punktacji
Język prowadzenia: polski
Poziom przedmiotu:

podstawowy

Symbol/Symbole kierunkowe efektów uczenia się:

PR_W02, PR_W03, PR_W04, PR_W06, PR_W07, PR_U01, PR_U02, PR_U07


PR_U09

Skrócony opis:

Celem przedmiotu jest nabycie usystematyzowanej wiedzy z zakresu prawa własności intelektualnej.

Pełny opis:

Zakres tematyczny obejmuje:

1. Pojęcie własności intelektualnej

2. Źródła prawa własności intelektualnej

3. Umowy międzynarodowe w dziedzinie własności intelektualnej

4. Podział na prawo autorskie i prawa pokrewne oraz prawo własności przemysłowej, a także relacja do prawa konkurencji

5. Podmiot i przedmiot praw autorskich

6. Prawa majątkowe i osobiste

7. Podstawowe wiadomości o umowach prawnoautorskich

8. Podstawowe wiadomości o prawach pokrewnych

9. Ochrona baz danych

10. Przepisy o nieuczciwej konkurencji i prawa ochrony konkurencji

11. Znaki towarowe, przedmiot ochrony i podmioty uprawnione do

zgłaszania

12. Pojęcie wynalazku i patentu, podmioty uprawnione do zgłoszenia

wynalazku do ochrony; patent europejski

13. Podstawowe wiadomości dotyczące rejestracji i ochrony wynalazków

14. Egzamin.

Literatura:

1. Wykaz literatury podstawowej:

J. Barta, R. Markiewicz „Prawo autorskie” Oficyna Wolters Kluwer, Warszawa, aktualne wydanie

M. Poźniak-Niedzielska, J. Szczotka, M. Mozgawa „Prawo autorskie i prawa pokrewne zarys wykładu”, Oficyna Wydawnicza Branta, Bydgoszcz, Warszawa, Lublin 2007

J.Banasiuk, J.Sieńczyło-Chlabicz, Z.Zawadzka „Prawo własności intelektualnej”, Wolter Kluwer, Warszawa 2018

E.Nowińska, U.Promińska, K.Szczepanowska- Kozłowska, „Prawo własności przemysłowej”, LexisNexis, Warszawa 2014

2. Wykaz literatury uzupełniającej:

System prawa prywatnego t. XIII prawo autorskie (J. Barta red.) Warszawa 2017

M. du Vall "Prawo patentowe", Oficyna Wolters Kluwer, Warszawa, aktualne wydanie

Efekty kształcenia i opis ECTS:

EK1 student wymienia i opisuje pojęcia z zakresu prawa własności intelektualnej

EK2 student rozróżnia i objaśnia źródła prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej

EK3 student definiuje i prezentuje charakterystykę instytucji prawa własności intelektualnej

EK4 student opisuje instrumenty ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej

EK5 student objaśnia instytucje i ochronę własności przemysłowej

Metody i kryteria oceniania:

Metodami weryfikacji efektów kształcenia EK1-EK5 są aktywność na zajęciach, obserwacja zachowań, ocenianie ciągłe, praca pisemna, sprawdziany pisemne, odpowiedź ustna na zakończenie.

kryteria oceniania:

na ocenę 2:

EK1 student nie zna pojęć z zakresu prawa własności intelektualnej

EK2 student nie rozróżnia i nie potrafi objaśnić źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej

EK3 student nie zna definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej

EK4 student nie zna instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej

EK5 student nie potrafi scharakteryzować na czym polega instytucja i ochrona własności przemysłowej

na ocenę 3:

EK1 student posiada zadowalającą wiedzę na temat pojęć z zakresu prawa własności intelektualnej

EK2 student ma zadowalającą wiedzę na temat źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej

EK3 student ma zadowalającą wiedzę na temat definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej

EK4 student ma zadowalającą wiedzę na temat instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej

EK5 student ma zadowalającą wiedzę na temat instytucji i ochrony własności przemysłowej

na ocenę 4:

EK1 student posiada dobrą wiedzę na temat definiowania pojęć z zakresu prawa własności intelektualnej

EK2 student posiada dobrą wiedzę na temat źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej

EK3 student posiada dobrą wiedzę na temat definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej

EK4 student posiada dobrą wiedzę na temat instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej

EK5 student posiada dobrą wiedzę na temat instytucji i ochrony własności przemysłowej

na ocenę 5:

EK1 student potrafi bardzo dobrze definiować pojęcia z zakresu prawa własności intelektualnej

EK2 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat źródeł prawa własności intelektualnej i własności przemysłowej

EK3 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat definicji i charakterystyki instytucji prawa własności intelektualnej

EK4 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat instrumentów ochrony własności intelektualnej i własności przemysłowej

EK5 student posiada bardzo dobrą wiedzę na temat instytucji i ochrony własności przemysłowej

Przedmiot nie jest oferowany w żadnym z aktualnych cykli dydaktycznych.
Opisy przedmiotów w USOS i USOSweb są chronione prawem autorskim.
Właścicielem praw autorskich jest Uniwersytet Kardynała Stefana Wyszyńskiego w Warszawie.
ul. Dewajtis 5,
01-815 Warszawa
tel: +48 22 561 88 00 https://uksw.edu.pl
kontakt deklaracja dostępności USOSweb 7.0.3.0-1 (2024-04-02)